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SOLUTION

テレダイン・レクロイ、特性評価に比類のない深い洞察を提供する高速インタコネクト・アナライザWavePulser 40iXを発表

2019.6.6 12:24 pm

PCI Express、自動車用イーサネットなど高速シリアルプロトコル用の相互接続検証やケーブルの特性評価、解析を1台で

テレダイン・ジャパン株式会社（代表取締役　原　直）は本日、インタコネクトの試験と検証に多角的な洞察が得られる独自の機能を備えた4ポートの高速インタコネクト・アナライザWavePulser 40iXを発表しました。WavePulser 40iXは、キーコンポーネントをテレダイン・サイエンティフィック&イメージング社のインジウム・リン（InP）プロセスを用いて内製し、40GHzの広帯域を実現し、PCI Express、HDMI、USB、SAS、SATA、ファイバチャネル、InfiniBand、ギガビットイーサネット、および自動車用イーサネットなどの高速シリアルプロトコル用の相互接続検証やケーブルの特性評価および解析を一台で行える、高速ハードウェア設計者およびテストエンジニアにとって理想的なツールです。

年々高速化するシリアル・インタフェースの品質を確保するのにプリント基板上の伝送線路、ケーブル、コネクタ、バックプレーンなど品質を確保することが重要な課題となっています。従来、インタコネクトの試験と検証は、時間軸の試験と周波数軸の試験に二分されていました。前者の場合、ステップ/インパルス応答を利用したタイム・ドメイン・リフレクトメータ(TDR)を用いてインピーダンス・プロファイルを計測し、シグナル・インテグリティの評価をしてきました。TDRは、高い空間分解能を特徴とし、インピーダンス・プロファイルの変化によって、伝送線路に沿った障害の正確な位置を特定することができます。後者の場合、高ダイナミックレンジを特徴とするベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)を用いて、高周波（RF）成分のSパラメータを測定し、多くの場合、マイクロ波技術者によって使用されてきました。VNAを高速インタコネクト試験に用いる場合、直流における応答を外挿する必要があったり、時間軸シミュレーションやエミュレーションあるいはタイムゲーティング、およびジッタ解析のための解析ツールの機能が不十分であったりします。

WavePulser 40iXは、一つの機器を用いて一度の測定で、VNAのような完全なSパラメータ周波数特性評価とTDRのようなインピーダンス・プロファイリングを実行し、強力な解析機能をも提供することで、時間領域と周波数領域の特性を統合し、高速相互接続テストと検証のプロセスを大幅に簡素化します。WavePulser 40iXは、OSLT校正基準を内蔵しており、DUTとの接続を取り外すことなく自動で素早く簡単に校正が行えるので、シリアルデータのインタコネクト、つまりケーブル、チャンネル、コネクタ、ビア、バックプレーン、プリント基板、チップおよびSoCパッケージなどを正確に評価して、物理的な信号経路の詳細を正確に解き明かすことができます。測定されたSパラメータは、タイムゲーティング、インタコネクトのデエンベッド、アイパターンム、イコライザの最適設定、シリアルデータ・パターンのシミュレーション、成分分離を含む高度なジッタ解析など、さらなる解析に使用することができます。

テレダイン・レクロイのシグナル・インテグリティ・エバンジェリスト、エリック・ボガティン博士は次のように述べています。「WavePulser 40iXは時間軸と周波数軸を一つの機器に統合し、組み立て不良のコネクタ、機械的に損傷したケーブル、チャンネル内の不連続箇所などの障害の検出を可能にします。これら不具合の影響はDUTの周波数応答に幅広く拡散されているため、周波数領域でSパラメータだけを測定して検出することは不可能です。ただし、WavePulser 40iXでは、1 mm未満の空間分解能があるので、それらを簡単に識別し、特定することができます。また、同時にDCから40 GHzまでのシングルエンドとミックスモードのSパラメータ測定（シミュレーション用）も提供されます。WavePulser 40iXがなければ、Sパラメータの測定、フィクスチャのデエンベッド、シングルエンドモードまたはミックスモードとしての時間領域または周波数領域での表示、アイパターンのシミュレーション用として、個別に4つの異なるソフトウェア・ツールが必要になる可能性があります。」とも述べています。