シリコン・ラボ、過酷な産業用途でもあらゆる負荷を制御できる、コンパクトなデジタル・アイソレータの新製品「Si834x」ファミリを発表

クラス最高の保護機能と診断機能を備え、信頼性に優れた堅牢なスイッチを実現

シリコン・ラボラトリーズ（本社: 米テキサス州オースチン、Nasdaq: SLAB、以下: シリコン・ラボ）は、過酷な産業用途でもあらゆる負荷を制御できる、コンパクトで堅牢な絶縁型スマート・スイッチ・ファミリの新製品「Si834x」を発表しました。新Si834xアイソレータ・スイッチは、プログラマブル・ロジック・コントローラ（PLC）、I/Oモジュール、リレー・ドライバ、サーボ・モータ・コントローラを含む産業制御システムで使用されるソレノイド、リレー、ランプなどの抵抗負荷や誘導負荷の制御に最適です。各スイッチは、シリコン・ラボの画期的なCMOSベースの絶縁技術を使用した安全性の高いガルバニック絶縁と100 kV/µs以上のコモンモード過渡耐性（CMTI）により、従来のフォトカプラベースの絶縁に比べて優れた信頼性とパフォーマンスを提供します。

4チャネルのSi834xアイソレータ・スマート・スイッチ（Si834x4x）は、サンプルならびに量産に対応しており、パッド露出型（ePAD対応）のコンパクトな9mm x 9mm DFN 32パッケージで供給されます。シリコン・ラボは、開発作業の簡素化と期間短縮を支援するため、パラレル/SPIインターフェイス対応のSi834x評価キットを用意しています。Si834xの価格・納期、評価ボードの詳細は、シリコン・ラボ国内販売代理店にお問い合わせください。製品仕様の詳細は、シリコン・ラボWebページをご参照ください（silabs.com/isolated-smart-switch）。

Si834xアイソレータ・スイッチ・ファミリは、ハイサイド及びローサイドのスイッチオプション、低オン抵抗（145 mΩ RON）、IEC 61131-2規格に準拠した最大700 mAの連続通電、包括的な保護と診断報告、拡張コンフィグレーション、産業オートメーション・システムに必要とされるモニタリングや制御をサポートします。スイッチ・ロジック・インターフェイスは、シンプルな4線の低消費電力CMOSデジタル入力でありながら、シリアル・ペリフェラル・インターフェイス（SPI）としての柔軟性を備えており、4本のMCUインターフェイスピンで最大128チャネルまで制御可能です。

シリコン・ラボで、パワー製品担当バイス・プレジデント兼ジェネラル・マネージャを務めるBrian Mirkinは、次のように述べています。
「新Si834xアイソレータ・スマート・スイッチ・ファミリは、産業オートメーションにおける絶縁技術を対象とした、シリコン・ラボの3世代にわたる技術革新を体現する製品です。Si834xファミリは、当社の広範なアイソレータ・ポートフォリオを拡張するもので、PLC入力アイソレータ、絶縁型FETドライバと組み合わせることで完全なソリューションが実現します。Si834xは、競合するオプティカル・アイソレータやパワーFETなどを凌駕する性能を備えており、クラス最高のスイッチ保護機能、柔軟なコンフィグレーションや包括的な診断フィードバック機能を特長として完全に統合された、24 Vデジタル出力ソリューションです」

広範な負荷をドライブするために、精巧なスイッチ機能と状況変化への素早い反応が組み合わされた負荷モニタリング技術が、Si834xスイッチを極めて堅牢でフレキシブルなソリューションにします。各スイッチはオープン回路状態が検出可能であり、また過電流、消磁による過電圧（誘導キックバックまたはフライバック電圧）や温度過上昇から保護されます。革新的なマルチ電圧のスマート・クランプにより、消磁エネルギーが制限なく効率的に処理されます。過電流保護機能は競合製品に見られない突入電流モードにより,様々なタイプの負荷を制御できます。

Si834xは、競合するデバイスに比べて優れた誘導負荷制御パフォーマンスと、安全性の高い過負荷保護を実現しています。スイッチ・インピーダンスとクランプ電圧を高速に操作できる革新的な機能を採用しているため、効率性や長期にわたる信頼性が損なわれず、また複雑な冷却装置も必要としません。障害が発生した場合にシャットダウンされるソリューションが多い中で、Si834xはチャネルに制約を加えながら継続して動作するため、システムの稼働時間が劇的に向上します。

8種類の診断報告を生成する精巧なロジック・インターフェイスを備え、各スイッチの詳細を把握しながら比類ないレベルでの制御が可能となるため、Si834xは市場で最も柔軟性に優れたスイッチです。診断機能はSPI経由にて設定、モニタリング、設定クリアが可能であり、またアクティブ・ローのオープン・ドレイン・インジケータ・ピンによって容易に検出することもできます。診断の伝達は、絶縁バリア全体のスイッチ制御信号とは独立して行われます。

絶縁チャネルが分離され,障害検出のモニタリング診断が常時行われることで、絶縁バリアの他方側におけるスイッチと負荷の動作に関する詳細な情報をシステムオペレーターに提供することにより、高度なレベルでデバイスの信頼性を保証します。

　　
■シリコン・ラボラトリーズ
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